Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
Как вносится влияние неисправностей в параллельном методе?
Как вносится влияние неисправностей в параллельном методе?
вопросПравильный ответ:
табличным методом
маской
функцией
Сложность вопроса
72
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Пишет вам сотрудник деканата! Оперативно уничтожьте этот ваш сайт с ответами по интуит. Пожалуйста
13 ноя 2020
Аноним
Зачёт в студне отлично. Бегу отмечать отмечать зачёт по тестам
18 авг 2018
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
- # Какое соотношение между дефектом и неисправностью?
- # Что характеризует константную неисправность?
- # На каких принципах основаны эволюционные вычисления?
- # Чем определяется число столбцов в особи?
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.5) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа , представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .