Главная /
Принципы построения и функционирования ЭВМ /
На сколько порядков возрастает интегральный показатель качества микроэлектронного изделия при уменьшении линейных размеров топологии кристалла в 10 раз?
На сколько порядков возрастает интегральный показатель качества микроэлектронного изделия при уменьшении линейных размеров топологии кристалла в 10 раз?
вопросПравильный ответ:
на 2 порядка
на 1 порядок
на 3 порядка
на 4 порядка
Сложность вопроса
20
Сложность курса: Принципы построения и функционирования ЭВМ
19
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Экзамен прошёл на отлично. Спасибо за халяуву
07 авг 2019
Аноним
Я провалил экзамен, почему я не нашёл этот великолепный сайт с решениями с тестами intuit до того как забрали в армию
02 ноя 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.