Главная /
Инструктивный синтез нанометровых вычислительных структур. От элементной базы к алгоритмически ориентированным субпроцессорам. /
В Т-рекурсивных тестах основной вклад в увеличение неопределенности задач локализации и идентификации отказов вносят:
В Т-рекурсивных тестах основной вклад в увеличение неопределенности задач локализации и идентификации отказов вносят:
вопросПравильный ответ:
неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной FIFO-регистровой D-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной FIFO-регистровой P-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные D-триггеры двумерной LILO-регистровой D-шины бит-матрицы
неисправные эквидистантные P-триггеры двумерной LILO-регистровой P-шины бит-матрицы
Сложность вопроса
30
Сложность курса: Инструктивный синтез нанометровых вычислительных структур. От элементной базы к алгоритмически ориентированным субпроцессорам.
28
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Спасибо за ответы по интуиту.
28 мар 2017
Аноним
Если бы не эти решения - я бы не смог решить c этими тестами intuit.
19 июн 2016
Аноним
Это очень заурядный решебник интуит.
09 май 2016
Другие ответы на вопросы из темы нанотехнологии интуит.
- # Основным источником потери работоспособности БП и всей бит-матрицы является:
- # В базовой архитектуре МКМД-бит-потокового (суб)процессора многопортовые ОЗУ поддерживаются:
- # Инструментальная платформа интерактивного микропрограммного конструирования является:
- # В основе решения каких задач лежит определение пространственного положения линии визирования от космического летательного аппарата (КЛА) до центра некоторой "неподвижной" яркой звезды, используемой в качестве астроориентира?
- # В делителе модуля определения положение центра масс астроориентира использован следующий алгоритм или алгоритмы: