Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
вопросПравильный ответ:
пропущенные контактные окна
пропущенные компоненты
погрешности травления
электрическое перенапряжение
неправильные аналоговые спецификации
дефекты характеристик
Сложность вопроса
63
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Спасибо за тесты по интуит.
18 дек 2020
Аноним
Экзамен сдал на пять с минусом. Спасибо сайту
04 окт 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
- # Какие перекрестные помехи рассматриваются?
- # Какие неисправности содержит список?
- # Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=110 при начальном состоянии s=2 ? [Большая Картинка]
-
#
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН.
[Большая Картинка]
В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество
Здесь
- Const 1 на входе 3,
- Const 1 на входе 2,
- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность
,
Для множества
требуется построить таблицу Т-ТФН.
-
#
В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества
, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию
с параметром
, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций
, если длина свертки равна
битам.
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
101100110011101
101110111001110
101100110011100
101001011001110
101100110010001
101101110011101
101110110011001
100101110010111
Решить задачу при значении
и
.
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:















00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН.
[Большая Картинка]
В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество
Здесь
- Const 1 на входе 3,
- Const 1 на входе 2,
- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность
, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию
с параметром
, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций
, если длина свертки равна
битам.
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
101001011001110
101100110010001
101101110011101
101110110011001
100101110010111
Решить задачу при значении
и
.