Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств - ответы на тесты Интуит
Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность.
Список вопросов:
- # Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
- # Какие из приведенных ниже дефектов характерны для плат?
- # Какое соотношение между дефектом и неисправностью?
- # Что характеризует константную неисправность?
- # Что характеризует транзисторные неисправности?
- # Что характеризует неисправность "задержка"?
- # Какие дефекты может моделировать константная неисправность?
- # Какие одиночные константные неисправности вентиля проверяет входной набор ?
- # Какие одиночные константные неисправности вентиля проверяет входной набор ?
- # Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме. [Большая Картинка] Какие неисправности прилагаемой схемы эквивалентны?
- # Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме. [Большая Картинка] Какие одиночные константные неисправности схемы находятся в отношении доминирования?
- # Эквивалентность и доминирование неисправностей в схеме. [Большая Картинка] Какие контрольные точки имеет схема?
- # Как моделируется замыкание двух линий в ТТЛ логике?
- # Как моделируется замыкание двух линий в ЭСЛ логике?
- # Как моделируется замыкание двух линий в КМОП-логике?
- # Какие отказы характерны для МОП-технологии?
- # Какая модель применяется для моделирования транзисторов на переключательном уровне?
- # Какие неисправности используются на переключательном уровне?
- # Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка вентиля"?
- # Чем обусловлена задержка сигнала в модели "задержка пути"?
- # Сколько входных набров используется для тестирования неисправности "задержка"?
- # Какие конструкции используются в неисправностях ЯРП?
- # Какие перекрестные помехи рассматриваются?
- # Какие наводки превалируют в субмикронных технологиях?
- # При каких условиях могут возникнуть индуцированные задержки?
- # Где используется логическое моделирование?
- # Что необходимо для моделирования неисправностей?
- # Какие дополнительные действия необходимы в моделировании неисправностей по сравнению с моделированием исправных схем?
- # Как увеличивается время в последовательном моделировании для неисправностей?
- # Как изменяются затраты памяти последовательном моделировании для неисправностей?
- # Что проще реализовать в последовательном моделировании для неисправностей?
- # Сколько неисправностей моделируется в параллельном методе на -разрядном инструментальном компьютере?
- # Сколько проходов параллельного моделирования необходимо для неисправностей на p-разрядном инструментальном компьютере?
- # Как вносится влияние неисправностей в параллельном методе?
- # Чему соответствует в приведенной схеме строка таблицы ? [Большая Картинка] Испр. 1 0 1 1 1 1 1 1 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 1 1 0 1 0 1
- # Какие неисправности проверяются на приведенной таблице?
- # Какое значение сигнала на линии при неисправности ?
- # Какое значение сигнала на линии при неисправности ?
- # Какое значение сигнала на линии при неисправности ?
- # Как падает быстродействие параллельного метода при переходе на троичный алфавит?
- # Как увеличиваются затраты памяти параллельного метода при переходе на троичный алфавит?
- # Какие троичные значения представляют 2 компоненты троичного вектора ?
- # Сколько машинных слов выделяется одной линии в многозначном моделировании неисправностей?
- # Что повышает скорость вычислений значений элемента в многозначном алфавите?
- # Какие многозначные значения представляют 4 компоненты вектора F^0=(1 0 1 1 1 1), F^{D'}=(0 0 1 0 1 1), F^{D}=(0 0 0 1 1 0), F^{0}=(0 1 1 1 1 0)?
- # Чему соответствует в схеме список неисправностей в дедуктивном методе моделирования неисправностей?
- # Какие неисправности содержит список?
- # Для чего нужны теоретико-множественные формулы?
- # Какое правило распространения неисправностей для вентиля при значениях входов ?
- # Какое правило распространения неисправностей для вентиля при значениях входов ?
- # Какое правило распространения неисправностей для вентиля c при значениях входов ?
- # При переходе на троичный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?
- # Какое правило распространения неисправностей для вентиля при кодированных значениях входов ?
- # При переходе на многозначный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?
- # Чем отличается конкурентный метод от дедуктивного?
- # С чем ассоциируется список неисправностей в конкурентном методе?
- # Как соотносятся список дедуктивного метода и суперсписок конкурентного метода?
- # Какие основные процедуры в конкурентном методе?
- # Какие методы вычисления значений выходных сигналов элементов можно использовать в конкурентном методе?
- # Какие алфавиты легко реализуются в конкурентном методе?
- # Какой многозначный алфавит использует метод Test-Detect?
- # Какой символ на выходе показывает проверямость неисправности?
- # Какой физический смысл имеет символ D?
- # Какой стандартной неисправности соответствует неисправность "задержка переднего фронта" при большом времени перехода.
- # Сколько входных наборов используется для тестирования неисправности "задержка"?
- # Чем отличается устойчивый тест от неустойчивого для неисправности "задержка" ?
- # Какой физический смысл имеет символ 5-значного алфавита .
- # Какой физический смысл имеет символ 5-значного алфавита ?
- # Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?
- # На 6-значный алфавит . И 0 D F0 1 D' F1 0 0 0 0 0 0 0 D 0 F0 F0 D F0 F0 F0 0 F0 F0 F0 F0 F0 1 0 D F0 1 D' F1 D' 0 F0 F0 D' D' D' F1 0 F0 F0 F0 D F1 Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения и .
- # На 6-значный алфавит . И 0 D F0 1 D' F1 0 0 0 0 0 0 0 D 0 F0 F0 D F0 F0 F0 0 F0 F0 F0 F0 F0 1 0 D F0 1 D' F1 D' 0 F0 F0 D' D' D' F1 0 F0 F0 F0 D F1 Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения и .
- # На 6-значный алфавит . И 0 D F0 1 D' F1 0 0 0 0 0 0 0 D 0 F0 F0 D F0 F0 F0 0 F0 F0 F0 F0 F0 1 0 D F0 1 D' F1 D' 0 F0 F0 D' D' D' F1 0 F0 F0 F0 D F1 Какое значение на выходе вентиля И, если его входы имеют значения и .
- # Каким символом представляется передний фронт в 6-значном алфавите .
- # Каким символом представляется задний фронт в 6-значном алфавите .
- # Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?
- # Что "прослеживается" в методе обратного прослеживания?
- # Какие линии входят в активизированный путь?
- # Какие значения сигналов после моделирования должны иметь линии - кандидаты на включение в проверяемые пути?
- # Что определяет - управляемость линии в STAFAN?
- # Что определяет -наблюдаемость линии n в STAFAN?
- # Какие счетчики определяются для каждой линии схемы в STAFAN?
- # Оценивается вероятность обнаружения неисправности const0 на линии n?
- # Оценивается вероятность обнаружения неисправности const1 на линии n?
- # Какую сложность имеет метод STAFAN? В зависимости от числа линий схемы
- # Какие аспекты имеет генерация тестов?
- # Какие компоненты включает система генерации тестов?
- # Какие методы генерации тестов используются на начальном этапе?
- # Что выбирается случайно в псевдослучайном методе по-строения тестов?
- # Когда входной набор включается в тест?
- # Какие критерии окончания в псевдослучайном методе гене-рации тестов?
- # С какой вероятностью генерирются 0,1-сигналы для каждо-го входа?
- # В каком направлении строятся критические пути?
- # Для какого вентиля куб () является критическим?
- # Для какого вентиля куб является критическим?
- # Сколько входных наборов генерирует алгоритм критиче-ских путей для каждого выхода схемы?
- # Какое определение различающей функции верно?
- # Какое булево уравнение необходимо решить для построения теста?
- # Определите методом различающей функции, какой набор является тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Какое определение булевой производной верно?
- # Какие формулы верны?
- # Какое булево уравнение необходимо решить при построении теста для неисправности константной неисправности ?
- # Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Определите методом различающей функции, какой набор явля-ется тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Какие этапы имеет метод активизации одномерных путей?
- # Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль И?
- # Какие значения соседних входов надо присвоить при акти-визации пути через вентиль НЕ-ИЛИ?
- # Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Определите методом активизации одномерных путей, какой набор является тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Определите методом активизации одномерных путей, какой на-бор является тестом для неисправности приведенной схемы? [Большая Картинка]
- # Какие области представления используются в проектировании цифровых устройств?
- # Какие уровни представления применяются в проектировании цифровых устройств?
- # Чем отличаются области проектирования от уровней моделирования?
- # Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на логическом уровне?
- # Что применяется в проектировании цифровых устройств в структурной области на схемном уровне?
- # Что применяется в проектировании цифровых устройств в поведенческой области на схемном уровне?
- # Как отражается синтез цифровых устройств на диаграмме Гайского-Кана?
- # Чему соответствует переход от структурной к физической области на диаграмме Гайского-Кана?
- # В какой области раньше была решена задача автоматизация синтеза?
- # На каких этапах проводится тестирование?
- # Что является целью тестирования на этапе производства?
- # Что является целью тестирования на этапе диагностики и восстановления?
- # Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности? [Большая Картинка]
- # Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности? [Большая Картинка]
- # Какую булеву функцию представляет приведенная таблица истинности? [Большая Картинка]
- # Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке? [Большая Картинка]
- # Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке? [Большая Картинка]
- # Какую булеву функцию представляет бинарная диаграмма (альтернативный граф), приведенная на рисунке? [Большая Картинка]
- # Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=010 при начальном состоянии s=3 ? [Большая Картинка]
- # Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный таблицей, на входную последовательность x=011 при начальном состоянии s=1 ? SX0112,13,022,14,031,04,043,12,0
- # Какую выходную реакцию y выдает автомат, представленный на рисунке, на входную последовательность x=110 при начальном состоянии s=2 ? [Большая Картинка]
- # Какие группы операторов используются в языках ЯРП?
- # Как могут быть описаны конечные автоматы в ЯРП?
- # Какая информация содержится в структурной модели цифрового устройства?
- # Какой физический смысл символа в 6-значнгом алфавите ?
- # Какой физический смысл символа в 6-значнгом алфавите ?
- # Какие этапы имеют методы генерации тестов в многозначных алфавитах?
- # Какие кубы из приведенных ниже являются 0-кубами вентиля ?
- # Какие кубы из приведенных ниже являются 1-кубами вентиля ?
- # Какие кубы из приведенных ниже являются D-кубами вентиля ?
- # Какими процедурами отличается метод PODEM от -алгоритма?
- # По какому критерию производится выбор вентиля в D-границе в методе PODEM?
- # По какому критерию производится выбор входа для вентиля И в процедуре обратного распространения?
- # Какая импликация используется в методе PODEM?
- # Как выполняется импликация в методе PODEM?
- # На каком этапе возможен конфликт в методе PODEM?
- # Какие действия выполняются при возникновении конфликта в методе PODEM?
- # Какая импликация используется в методе FAN?
- # Чем отличается процедура продвижения назад в методе FAN?
- # Что дает разбиение схемы на одновыходные древовидные подсхемы?
- # Какая запись цели используется в методе FAN?
- # Что дает использование более крупных примитивов в методе SOCRATES?
- # Что дает использование процедуры уникальной активизации в методе SOCRATES?
- # Что дает использование процедуры кратного обратного распространение в методе SOCRATES?
- # Какие алфавиты повышенной значности используются при генерации тестов?
- # Что дает использование алфавитов повышенной значности?
- # Какой физический смысл имеет символ в 10-значном алфавите?
- # Какие виды импликации применяются при построении теста 16-значном алфавите?
- # Какие символы присваиваются линиям схемы в структурной импликации?
- # Какая операция является основной при построении теста в 16-значном алфавите?
- # Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
- # Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
- # Какая из приведенных ниже формул используется для вентиля при преобразовании в КНФ?
- # Какая КНФ соответствует приведенной схеме? [Большая Картинка]
- # Какая КНФ соответствует приведенной схеме? [Большая Картинка]
- # Для какой схемы строится КНФ при построении теста?
- # Какую сложность решения в общем случае имеет задача выполнимости КНФ?
- # От чего зависит в первую очередь сложность решения задачи выполнимости КНФ?
- # При каком числе термов в дизъюнктах задача выполнимости КНФ имеет полиномиальную сложность?
- # Что можно внести в КНФ для учета нелокальной импликации?
- # Что нужно внести в КНФ для учета информации об активизированных путях?
- # Можно ли удалять отдельные переменные из КНФ?
- # На каких уровнях проектирования можно использовать бинарные диаграммы?
- # При решении каких задач можно использовать бинарные диаграммы?
- # К чему сводятся решение задач с использованием бинарных диаграмм?
- # Как используются бинарные диаграммы при построении тестов?
- # Какие модели неисправностей ориентированы на бинарные диаграммы?
- # К чему может привести неисправность в бинарной диаграмме?
- # Что составляет основу в методе покрытия путей в бинарной диаграмме?
- # Какие пути активизируют 0-эксперименты в бинарных диаграммах?
- # Чем отличаются в "боковые эффекты" от основных экспериментов?
- # Что дает сжатие тестов?
- # Что лежит в основе статического сжатия теста?
- # Что лежит в основе динамического сжатия тестов?
- # Какие основные подходы используются при построении тестов для цифровых схем с памятью?
- # На чем основаны методы построения идентифицирующих и тестовых последовательностей в экспериментах над автоматами?
- # Чем отличается прямое различающее дерево от дерева преемников состояний?
- # Что определяет в прямом различающем дереве тестовую последовательность?
- # Чем характеризуется гомогенная А-группа?
- # Что определяет в обратном различающем дереве тестовую последовательность?
- # Что идентифицирует входная установочная последовательность?
- # Что идентифицирует входная диагностическая последовательность?
- # Что делает синхронизирующая входная последовательность?
- # Что позволяет восстановить контрольный эксперимент?
- # Какие фазы включает контрольный эксперимент?
- # Какие входные последовательности можно использовать на этапе инициализации?
- # Какие входные последовательности можно использовать на этапе проверки переходов?
- # Как строится комбинационный эквивалент?
- # Чему соответствует комбинационный эквивалент?
- # Как соединяются комбинационные эквиваленты в итеративную комбинационную схему?
- # Какие дополнительные условия накладываются на построение тестов с использованием итеративной комбинационной схемы?
- # Какой метод генерации тестов комбинационных схем можно применять для построения теста для последовательностных схем на основе итеративной комбинационной схемы?
- # Алфавиты какой значности используются для построения тестов для последовательностных схем?
- # Какие фазы включает контрольный эксперимент?
- # Какие виды импликации используются при построении тестов в 16-значном алфавите?
- # Что учитывается в процессе структурной импликации?
- # К чему сводится прямая логическая импликация?
- # Что дает увеличение значности алфавита при построении теста?
- # Чем определяется число комбинационных эквивалентов в итеративной комбинационной схеме?
- # Чем отличаются одиночная и кратная стратегии наблюдения выходных сигналов?
- # Как должны отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при одиночной стратегии?
- # Как могут отличаться пары состояний исправной и неисправной схем при кратной стратегии?
- # Что присваивается линиям схемы в процессе символьного моделирования?
- # От каких переменных зависят логические выражения в символьном моделировании?
- # Какое условие окончания генерации теста при использовании дизъюнктивной формы различающей функции?
- # Какое условие окончания генерации теста при использовании конъюнктивной формы различающей функции?
- # Что соответствует терму различающей функции?
- # На каких принципах основаны эволюционные вычисления?
- # Что представляет особь в генетическом алгоритме?
- # Какие основные операторы используются в генетическом алгоритме?
- # Как реализуется репродукция?
- # Что является главным в операторе кроссинговера?
- # Что является основным в операторе мутации?
- # В каком порядке выполняются генетические операторы в простом генетическом алгоритме?
- # Что необходимо определить для решения задачи с помощью генетического алгоритма?
- # От каких параметров зависит эффективность генетического алгоритма?
- # Как можно определить особь при генерации тестов для комбинационной схемы?
- # Как можно определить фитнесс-функцию при генерации тестов для комбинационной схемы?
- # Какие данные используются при вычислении значений фитнесс-функции при построении тестов?
- # Как можно определить особь при генерации тестов для последовательностной схемы?
- # Чем определяется число столбцов в особи?
- # Чем определяется число строк в особи?
- # Какие виды кроссинговера используются при генерации тестов для последовательностной схемы?
- # Какие виды мутации используются при генерации тестов для последовательностной схемы?
- # Как производится выбор генетического оператора?
- # От каких параметров может зависеть фитнесс-функция при ? при генерации тестов для последовательностных схем?
- # Какая фитнесс-функция используется при оценке входного набора в системе АСМИД?
- # Какая фитнесс-функция используется при оценке тестовой последовательности в системе АСМИД?
- # Какие фазы имеет процесс реализации эволюционного алгоритма генерации теста?
- # Какой критерий используется при окончании фазы 2 генерации теста?
- # Какой метод моделирования неисправностей используется в третьей фазе эволюционного алгоритма генерации теста?
- # Для заданных выходных бинарных последовательностей вычислить значения функций счета , , , и Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности
- # Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности
- # Вычислить и выписать значения перечисленных в условиях задачи функций счета в указанном выше порядке для последовательности
- # Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов (с входами), (с входами) и элемента (с двумя входами). [Большая Картинка] Вычислить синдром сложной функции, если есть элемент И-НЕ с тремя входами, есть элемент ИЛИ с двумя входами, есть элемент М2.
- # Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов (с входами), (с входами) и элемента (с двумя входами). [Большая Картинка] Вычислить синдром сложной функции, если есть элемент И-НЕ с четырьмя входами, есть элемент ИЛИ-НЕ с двумя входами, есть элемент И.
- # Пусть сложная функция описывает функционирование ЦУ, изображенного на приведенном рисунке. Требуется вычислить синдром этой функции, если в реализующей ее схеме участвуют различные типы элементов (с входами), (с входами) и элемента (с двумя входами). [Большая Картинка] Вычислить синдром сложной функции, если есть элемент И с двумя входами, есть элемент ИЛИ с тремя входами, есть элемент М2.
- # На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность Требуется определить сигнатуру последовательности , т.е. содержимое сдвигового регистра , после подачи на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое. [Большая Картинка] Определить сигнатуру для последовательности
- # На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность Требуется определить сигнатуру последовательности , т.е. содержимое сдвигового регистра , после подачи на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое. [Большая Картинка] Определить сигнатуру для последовательности
- # На вход сигнатурного анализатора (СА), схема которого представлена на приведенном рисунке, подается бинарная входная последовательность Требуется определить сигнатуру последовательности , т.е. содержимое сдвигового регистра , после подачи на вход СА. Предполагается, что начальное состояние СА нулевое. [Большая Картинка] Определить сигнатуру для последовательности
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Здесь - Const 1 на входе 3, - Const 1 на входе 2, - Const 0 на входе 2.
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Здесь - Const 1 на выходе 7, - Const 0 на выходе 8, - Const 0 на выходе 9.
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Здесь - Const 1 на входе 3, - Const 1 на входе 2, - Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность , Для множества требуется построить таблицу Т-ТФН.
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Здесь - Const 1 на выходе 7, - Const 0 на выходе 8, - Const 0 на выходе 9. В качестве теста использовать последовательность , Для множества требуется построить таблицу Т-ТФН.
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Требуется построить таблицу Т-ТФН. В качестве теста использовать последовательность ,
- # Является ли тест , диагностическим для множества неисправностей ?
- # Позволяет ли входная последовательность , обнаруживать в ЦУ, представленном в задаче 4, неисправности из множества F = \{f_1,f_2,f_3,f_4,f_5,f_6\}?
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1. Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста , В качестве множества неисправностей использовать множество
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1. Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста , В качестве множества неисправностей использовать множество
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1. Постройте словарь неисправностей с использованием компактных сверток по выходу для диагностического теста , В качестве множества неисправностей использовать Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1. Используя Т-ТФН, построенную для ЦУ-1, постройте словарь неисправностей с ориентацией на выходы для диагностического теста , В качестве множества неисправностей использовать множество Предполагается, что выход 1-это линия 10, а выход 2- это линия 11 ЦУ-1.
- # Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест Пусть - разбиение множества состояний ЦУ (- исправное ЦУ, - ЦУ с -ой неисправностью), а - элементы этого разбиения. Каждому состоянию соответствует маска , и пусть - множество всех масок Предполагается, что каждое содержит одно состояние Требуется построить для различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве 110011101010111000001110000000100100001001000110010001001000101011111110 Построить , где множество содержит единую (общую) маску для всех и эта маска
- # Представленная ниже таблица - словарь полной реакции (СПР) некоторого ЦУ на тест Пусть - разбиение множества состояний ЦУ (- исправное ЦУ, - ЦУ с -ой неисправностью), а - элементы этого разбиения. Каждому состоянию соответствует маска , и пусть - множество всех масок Предполагается, что каждое содержит одно состояние Требуется построить для различных типов масок (общих и индивидуальных) при заданном множестве 110011101010111000001110000000100100001001000110010001001000101011111110 Построить , где множество содержит следующие маски: , , , , ,
- # Можно ли задачу сокращения диагностической информации свести к классической задаче о классификации объектов?
- # Жадный алгоритм поиска масок, описанный в лекции 31,базируется на применении конструкции дерева решений. Проиллюстрируйте конструкцию классического дерева решений для решения следующей задачи: имеется 8 одинаковых монет, среди которых одна фальшивая (она легче, чем стандартная). Монеты пронумерованы числами 1,2,…,8. Требуется найти фальшивую монету, используя равновесные весы с двумя чашками (пусть левая чашка имеет №1, правая - №2).
- # Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где - множество технических состояний ЦУ, - диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема. Решить задачу для СПР, заданного табл. 100111101010111000111110000000110100101001000110010001001000101011111110
- # Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где - множество технических состояний ЦУ, - диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска масок, изложенный в лекции 31, найти для заданного СПР единую маску минимального объема. Решить задачу для СПР, заданного табл 011001000001001000001011010010101101111010001010100111011000111001000110
- # Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где - множество технических состояний ЦУ, - диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл. 100111101010111000111110000000110100101001000110010001001000101011111110
- # Для некоторого ЦУ задается СПР в виде таблицы, где - множество технических состояний ЦУ, - диагностический тест для этого ЦУ. Используя жадный алгоритм поиска индивидуальных масок, изложенный в лекции 32, найти для заданного СПР множество индивидуальных масок минимального суммарного объема. Решить задачу для СПР, заданного табл. 011001000001001000001011010010101101111010001010100111011000111001000110
- # Целесообразно ли при поиске единой маски или множества индивидуальных масок с помощью жадных алгоритмов 1 или 2, описанных в лекциях 31 и 32, к исходной ДИ, представленной в виде СПР, применять какие-либо методы ее предварительного сокращения (к примеру, преобразования СПР в таблицу неисправностей)? Дайте обоснование любого варианта вашего ответа.
- # В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций , если длина свертки равна битам. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 Решить задачу при значении и .
- # В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций , если длина свертки равна битам. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 Решить задачу при значении и .
- # В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций , если длина свертки равна битам. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 Решить задачу при значении и .
- # В табл. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна битам. Решить задачу при значении и .
- # В табл. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна битам. Решить задачу при значении и .
- # В табл. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна битам. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.3) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.3) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.3) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.4) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.4) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.4) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.4) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.5) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа , представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.5) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа , представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.5) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа , представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу бит выходной реакции ДУ. Решить задачу при значении и .
- # Статистические данные, полученные в результате экспериментов, показывают, что эффективность сокращения ДИ с помощью хеш-функций в среднем в пять раз выше, чем сокращение с помощью масок. Вместе с тем применение хеш-функций при диагностировании ЦУ в технологическом процессе производства может привести к его замедлению. Назовите возможные причины такого замедления.
- # Какие производственные задачи решаются с помощью логического моделирования из перечисленных ниже: изготовление ЦУ;проверка логики функционирования;размещение логических элементов;трассировка соединений;поиск неисправностей;анализ состязаний сигналов;определение временных характеристик;выборочный контроль
- # Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в структурной области: 1) обыкновенные дифференциальные уравнения; 2)электрические схемы, 3) маска; 4) логическая схема ?
- # Каким способом, из перечисленных ниже, может быть описано ЦУ на логическом уровне в поведенческой области: 1)системные спецификации; 2)макроячейки,;3) булевы функции; 4) ЯРП?
- # Какие компоненты из перечисленных входят в структуру системы логического моделировании:
- # Какие типы машинных моделей используются в логическом моделировании?
- # Какие основные черты методов логического моделирования?
- # Какой физический смысл имеет символ 0 3-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ u 3-значного алфавита ?
- # Какие ситуации отражает символ u 3-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ 5-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ 5-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ 5-значного алфавита ?
- # Какой размер имеет zoom таблица для типов элементов с входами?
- # Какие преимущества дает zoom таблица?
- # Какой логический элемент моделирует приведенная функциональная модель если x1= 1, то y = 1; если x2= 1, то y = 1; если x3= 1, то y = 1; иначе y = 0
- # Какое значение принимает выход логического вентиля НЕ-И в 5-значном алфавите при значениях входов ?
- # Какое значение принимает выход логического вентиля НЕ-ИЛИ в 5-значном алфавите при значениях входов ?
- # Какое значение принимает выход логического вентиля НЕ-ИЛИ в 5-значном алфавите при значениях входов ?
- # Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами? [Большая Картинка]
- # На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами? [Большая Картинка]
- # На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами? [Большая Картинка]
- # Какие машинные модели схемы ис-пользуются в логическом моделировании?
- # Чем отличается событийное модели-рование от сквозного?
- # Чем отличается однопроходной алгоритм событийного моделирования от двухпроходного?
- # Какие преимущества компиля-тивной модели?
- # Какие недостатки компилятивной мо-дели?
- # Какие преимущества интерпретатив-ной модели?
- # Какие недостатки интерпретативной модели?
- # Что содержит элемент очереди будущих событий?
- # Какие используются способы модели-рования временного механизма?
- # Какие преимущества двухпроходного событийного алгоритма моделирования?
- # Чем обусловлено явление со-стязаний сигналов?
- # Чем отличается динамическое состяза-ние от статического?
- # Логическое состязание обусловлено свойствами?
- # На переходе
- # На переходе карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:
- # На переходе карты Карно, представленной на рисунке содержатся состязания:
- # Какую сложность имеет алгоритм обнаружения состязаний в зависимости от числа элементов?
- # Сколько этапов имеет алгоритм обнаружения состязаний Эйхельбергера?
- # Какой алфавит сигналов использует метод Эйхельбергера?
- # Какой физический смысл имеет символ Е универсального 16-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ D* универсального 16-значного алфавита ?
- # Какой физический смысл имеет символ G0 универсального 16-значного алфавита ?
- # Какие формальные способы построения алфавитов большей значности из исходного алфавита ?
- # Какую алгебраическую структуру образуют основные многозначные алфавиты?
- # Какой алфавит используется для моделирования шинных структур ?
- # Какие многозначные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # Какие троичные компонентные модели имеет логический элемент, реализующий функцию ?
- # Какие многозначные алфавиты применяются при генерации тестов?
- # Какой код соответствует символу F1?
- # Какие алфавиты используются для анализа состязаний?