Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
Как увеличивается время в последовательном моделировании для [формула] неисправностей?
Как увеличивается время в последовательном моделировании для неисправностей?
вопросПравильный ответ:
Сложность вопроса
70
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Экзамен прошёл на отлично. Спасибо vtone
08 сен 2020
Аноним
Экзамен прошёл на 4 с минусом.!!!
20 ноя 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
- # При переходе на многозначный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?
- # Какие действия выполняются при возникновении конфликта в методе PODEM?
- # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1. Постройте таблицу обнаружения неисправностей для диагностического теста , В качестве множества неисправностей использовать множество
- # В табл. Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию с параметром , осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна битам. Решить задачу при значении и .
- # Какие преимущества интерпретатив-ной модели?