Как изменяются затраты памяти последовательном моделировании для неисправностей?

вопрос

Правильный ответ:

Оставить комментарий

Отправить

• # Какое значение сигнала на линии при неисправности ?
• # Оценивается вероятность обнаружения неисправности const1 на линии n?
• # Какими процедурами отличается метод PODEM от -алгоритма?
• # Что представляет особь в генетическом алгоритме?
• # Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена на рисунке, помещенном ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции: 00000001010101010000000111111101 Требуется построить таблицу ТФН. [Большая Картинка] В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество Здесь - Const 1 на выходе 7, - Const 0 на выходе 8, - Const 0 на выходе 9. В качестве теста использовать последовательность , Для множества требуется построить таблицу Т-ТФН.