Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
Что лежит в основе динамического сжатия тестов?
Что лежит в основе динамического сжатия тестов?
вопросПравильный ответ:
устранение лишних тестовых наборов
доопределение тестовых наборов
выбор вторичной неисправности
Сложность вопроса
73
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Благодарю за решебник по интуиту.
08 апр 2018
Аноним
спасибо за тест
12 июн 2017
Аноним
Это очень элементарный решебник intuit.
17 янв 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
- # При переходе на многозначный алфавит сколько вентилей используется при моделировании логического элемента?
- # Чем отличается устойчивый тест от неустойчивого для неисправности "задержка" ?
- # Какая информация содержится в структурной модели цифрового устройства?
- # В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест101100110011101101110111001110101100110011100101001011001110101100110010001101101110011101101110110011001100101110010111 представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества , на некоторый тест. С помощью хеш-функции с параметром , построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу -разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.3) представляет собой -разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в качестве берется нулевое состояние регистра, а являются разрядами целого числа ,представленного в двоичном виде. Решить задачу при значении и .
- # Какие преимущества дает zoom таблица?