Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
Логическое состязание обусловлено свойствами?
Логическое состязание обусловлено свойствами?
вопросПравильный ответ:
функции
схемы
входных наборов
Сложность вопроса
80
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
спасибо за ответ
17 авг 2020
Аноним
Спасибо за тесты по intuit.
09 май 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
-
#
Какой символ
на выходе показывает проверямость неисправности?
-
#
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН.
[Большая Картинка]
В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество
Здесь
- Const 1 на входе 3,
- Const 1 на входе 2,
- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность
,
Для множества
требуется построить таблицу Т-ТФН.
-
#
В табл. представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества
, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию
с параметром
, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций
, если длина свертки равна
битам.
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
101100110011101
101110111001110
101100110011100
101001011001110
101100110010001
101101110011101
101110110011001
100101110010111
Решить задачу при значении
и
.
-
#
В таблице
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
101100110011101
101110111001110
101100110011100
101001011001110
101100110010001
101101110011101
101110110011001
100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества
, на некоторый тест. С помощью хеш-функции
с параметром
, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.5) (см. лекцию 34), построить таблицу
-разрядных сверток реакций ДУ.
Напомним, что в формуле (34.5)
представляет собой
-разрядное
содержимое сдвигового регистра, причем в качестве
берется нулевое состояние регистра, а
являются разрядами целого числа
, представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу
бит выходной реакции ДУ.
Решить задачу при значении
и
.
- # На рисунке представлены временные диаграммы логического моделирования для вентиля И C=A&B. Какая модель задержки элемента использовалась при моделировании и с какими параметрами? [Большая Картинка]
на выходе показывает проверямость неисправности?
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:















00000001010101010000000111111101
Требуется построить таблицу ТФН.
[Большая Картинка]
В качестве множества возможных неисправностей рассмотреть множество
Здесь
- Const 1 на входе 3,
- Const 1 на входе 2,
- Const 0 на входе 2. В качестве теста использовать последовательность
, на некоторый тест. Используя полиномиальную хеш-функцию
с параметром
, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций
, если длина свертки равна
битам.
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
101001011001110
101100110010001
101101110011101
101110110011001
100101110010111
Решить задачу при значении
и
.
представляет собой
берется нулевое состояние регистра, а
являются разрядами целого числа
, представленного в двоичном виде. На каждом такте на вход такого анализатора подается сразу
и
.