Главная /
Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств /
В таблице Неис правностьРеакции ДУ на тест[таблица] представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества [формула]-разрядных сверток реакций ДУ. Напомним, что в формуле (34.3) [формула]-разрядное содержимое сдвигового регистра, причем в каче
В таблице
| Неис правность | Реакции ДУ на тест |
|---|---|
 | 101100110011101 |
 | 101110111001110 |
 | 101100110011100 |
 | 101001011001110 |
 | 101100110010001 |
 | 101101110011101 |
 | 101110110011001 |
 | 100101110010111 |
, на некоторый тест. С помощью хеш-функции 
с параметром 
, построенной с использованием сигнатурного анализатора, функционирование которого описывается уравнением (34.3) (см. лекцию 34), построить таблицу 
-разрядных сверток реакций ДУ.
Напомним, что в формуле (34.3) 
представляет собой -разрядное
содержимое сдвигового регистра, причем в качестве 
берется нулевое состояние регистра, а 
являются разрядами целого числа 
,представленного в двоичном виде.
Решить задачу при значении 
и 
.
вопрос
Правильный ответ:
| Неис правность | |
|---|---|
| 00001 |
| 00100 |
| 00000 |
| 00011 |
| 01000 |
| 00110 |
| 01000 |
| 10001 |
| Неис правность | |
|---|---|
| 11111 |
| 00001 |
| 00100 |
| 00000 |
| 00011 |
| 00001 |
| 11101 |
| 00111 |
| Неис правность | |
|---|---|
| 110 |
| 001 |
| 100 |
| 000 |
| 011 |
| 100 |
| 100 |
| 011 |
| Неис правность | |
|---|---|
| 001 |
| 100 |
| 000 |
| 011 |
| 000 |
| 110 |
| 000 |
| 001 |
Сложность вопроса
85
Сложность курса: Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств
25
Оценить вопрос
Комментарии:
Аноним
Если бы не эти решения - я бы сломался c этими тестами intuit.
17 мар 2020
Аноним
Если бы не данные подсказки - я бы сломался c этими тестами intuit.
23 фев 2016
Другие ответы на вопросы из темы аппаратное обеспечение интуит.
- # Какие из приведенных ниже дефектов характерны для интегральных схем?
- # Какая импликация используется в методе FAN?
-
#
Пусть схема ЦУ с четырьмя входами и двумя выходами представлена в таблице, помещенной ниже. Предполагается, что это ЦУ содержит множество
![math]()
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы ![math]()
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
![math]()
00000001010101010000000111111101
Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.
Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста ![math]()
, ![math]()
В качестве множества неисправностей использовать множество ![math]()
-
#
В табл.
Неис
правностьРеакции ДУ на тест
![math]()
101100110011101![math]()
101110111001110![math]()
101100110011100![math]()
101001011001110![math]()
101100110010001![math]()
101101110011101![math]()
101110110011001![math]()
100101110010111
представлены реакции ДУ, содержащего 8 неисправностей из множества ![math]()
, на некоторый тест. Используя позиционную хеш-функцию ![math]()
с параметром ![math]()
, осуществляющую свертку реакций ДУ, построить таблицу сверток реакций, если длина свертки равна ![math]()
битам.
Решить задачу при значении ![math]()
и ![math]()
.
- # Какие основные черты методов логического моделирования?
возможных неисправностей. Пусть в качестве теста используются входные наборы 
Исправное ЦУ (эталон) на эти входные наборы выдает следующие реакции:
00000001010101010000000111111101
Условимся далее представленное ЦУ обозначать как ЦУ-1.
Постройте таблицу неисправностей Т-ТФН для диагностического теста 
и 
.